光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家
德國(guó)mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號(hào)得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時(shí)間:2024-10-23
美國(guó)nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國(guó)際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試，具有測(cè)量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場(chǎng)使用。
更新時(shí)間:2024-10-23
德國(guó) yxlon 高分辨率ｘ射線檢測(cè)設(shè)備 y.cougar smt 平板探測(cè)器（標(biāo)配） y.cheetah 高速平板探測(cè)器（標(biāo)配）
更新時(shí)間:2024-10-23
美國(guó)royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動(dòng)芯片分選系統(tǒng)
更新時(shí)間:2024-10-23
美國(guó)royec半自動(dòng)型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側(cè)面檢測(cè),可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時(shí)間:2024-10-23
美國(guó)rti自動(dòng)特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個(gè)性價(jià)比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個(gè)channel，提供4種型號(hào)可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機(jī)型一樣，mt century系統(tǒng)的設(shè)計(jì)有與950系列的測(cè)試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時(shí)間:2024-10-23
德國(guó)klocke nanotech納米級(jí)三維測(cè)量?jī)x3d nanofinger，是一種實(shí)用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測(cè)量設(shè)備。由臺(tái)架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測(cè)量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合，進(jìn)行在線檢測(cè)、質(zhì)量控制等。
更新時(shí)間:2024-10-23
日本a&d粒子計(jì)數(shù)器（粒度計(jì)）sv-1a,是使用點(diǎn)監(jiān)測(cè)的低成本替代設(shè)備,計(jì)數(shù)值高達(dá)2,000,000個(gè)粒子/ft.
更新時(shí)間:2024-10-23
美國(guó)filmetrics 薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺(tái)式薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)
更新時(shí)間:2024-10-23
美國(guó) sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復(fù)雜元器件設(shè)計(jì)的新一代設(shè)備。echo pro™全自動(dòng)超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動(dòng)判別缺陷,高產(chǎn)量,無(wú)需人員重復(fù)設(shè)置.
更新時(shí)間:2024-10-23
德國(guó)bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進(jìn)而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
更新時(shí)間:2024-10-23
德國(guó)bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥，食品，農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時(shí)的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實(shí)用的替代方法。ft-nir無(wú)破壞性，不需要樣品制備或危險(xiǎn)化學(xué)品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時(shí)間:2024-10-23
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測(cè)系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時(shí)間:2024-10-23
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(zhǎng)速率，厚度，折射率)，在短時(shí)間內(nèi)開(kāi)發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2024-10-23
美國(guó)ogp光學(xué)式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x zip 250 ，5:1 accucentric 電動(dòng)變焦透鏡，在每次放大變倍時(shí)自動(dòng)校準(zhǔn)，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時(shí)間:2024-10-23
jy—pha接觸角測(cè)定儀，用于液體對(duì)固體的浸潤(rùn)性，通過(guò)測(cè)量液體對(duì)固體的接觸角、計(jì)算、測(cè)定液體對(duì)固體的附著力，張力及固體表面能等指標(biāo)。
更新時(shí)間:2024-10-23
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測(cè)量?jī)x，采用高性能日本原裝進(jìn)口工業(yè)機(jī)芯，工業(yè)級(jí)連續(xù)變倍顯微鏡，確保圖像的真實(shí)性，獲取最佳的成像效果。
更新時(shí)間:2024-10-23
美associated 耐壓測(cè)試儀hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot測(cè)試儀，用于為電纜、電線、線束和電氣元件測(cè)試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用，并為安全有效的測(cè)試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后，該系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測(cè)系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2024-10-23
montana 新型超精細(xì)多功能無(wú)液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達(dá)到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動(dòng)和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動(dòng)化的控制軟件，簡(jiǎn)化了用戶的操作流程。
更新時(shí)間:2024-10-23
德國(guó)attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場(chǎng)磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無(wú)磁性材料制備的高數(shù)值孔徑（na）共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來(lái)滿足odmr實(shí)驗(yàn)的需求。
更新時(shí)間:2024-10-23
sinton少子壽命測(cè)試儀wct-120，suns-voc，硅片少子壽命測(cè)試系統(tǒng)，采用了獨(dú)特的測(cè)量和分析技術(shù)，包括準(zhǔn)穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(qsspc)測(cè)量方法。可靈敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。
更新時(shí)間:2024-10-23
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測(cè)量需要
更新時(shí)間:2024-10-23
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀，靈活的臺(tái)式表面形貌測(cè)量設(shè)備
更新時(shí)間:2024-10-23
布魯克 dektakxt 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計(jì)創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測(cè)量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
更新時(shí)間:2024-10-23
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b，可檢測(cè)光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時(shí)間:2024-10-23
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2024-10-23
美az 總輻射度/太陽(yáng)能吸收率(tesa)便攜式反射計(jì) tesa 2000，根據(jù)astm e408測(cè)定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時(shí)的太陽(yáng)吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊，輕巧，堅(jiān)固耐用，符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，便于在野外或?qū)嶒?yàn)室中使用。
更新時(shí)間:2024-10-23
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器：kl-28b/28bf( 光散射法）,粒徑范圍（2個(gè)通道）：≥0.2μm， ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）
更新時(shí)間:2024-10-23
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-16/16f ( 光散射法）, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）, 粒徑范圍（5個(gè)通道）：≥0.1μm， ≥0.15μm ， ≥0.2μm ， ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時(shí)間:2024-10-23
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-17b ( 光散射法）,純水用，大粒子數(shù)濃度：100 000 顆/ml （誤差值低于5%），粒徑范圍（2個(gè)通道）：≥0.05μm， ≥0.1μm （4通道需工廠定制）
更新時(shí)間:2024-10-23
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f，寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2024-10-23
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-24 ( 光散射法）,液體粒子計(jì)數(shù)器，可檢測(cè)從純水到氫氟酸各種各樣的液體。可測(cè) 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時(shí)間:2024-10-23
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用），可檢測(cè)光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍（4個(gè)通道，出廠默認(rèn)）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm
更新時(shí)間:2024-10-23
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-18f ( 光散射法）液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測(cè)到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時(shí)間:2024-10-23
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法）,可測(cè)試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2024-10-23
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法）,寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2024-10-23
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法）,寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2024-10-23
日本理音 rion 粒子計(jì)數(shù)器 ks-20f，檢測(cè)粒徑為0.02μm的顆粒，從0.02μm到0.08μm可達(dá)7個(gè)通道
更新時(shí)間:2024-10-23
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計(jì)數(shù)器，測(cè)試粒徑（5個(gè)通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時(shí)間:2024-10-23
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-03b ( 光散射法）,測(cè)試粒徑（5個(gè)通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時(shí)間:2024-10-23
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時(shí)間:2024-10-23
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀，自由選擇測(cè)試氣氛，優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源，16位自動(dòng)進(jìn)樣器，高的測(cè)量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設(shè)計(jì)獨(dú)特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測(cè)試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內(nèi)置微型管式爐，更高的測(cè)量效率，高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
更新時(shí)間:2024-10-23
尖軌自身的加工誤差和尖軌磨損導(dǎo)致輪對(duì)與直尖軌和基本軌組合受力不良，直尖軌降低值不符合要求是道岔晃車的根本原因和引起晃車的重要原因。hyjg-1智能尖軌降低值測(cè)量?jī)x是用來(lái)測(cè)量尖軌相對(duì)于基本軌的降低值以及心軌相對(duì)于翼軌的降低值的用儀器。
更新時(shí)間:2024-10-23
hyxj-1激光鐵路限界測(cè)量?jī)x可對(duì)隧道限界、鐵路限界（如站臺(tái)、信號(hào)機(jī)、風(fēng)雨棚等）、橋梁、跨線橋、車站附屬物限界、軌道相對(duì)隧道位置等數(shù)據(jù)進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量，也可快速的測(cè)量鐵路、地鐵、城市軌道的站臺(tái)及附屬物限界尺寸和地下曲線車站站臺(tái)邊緣至機(jī)車輪廓線間間隔及附屬物全斷面、分?jǐn)嗝妗吸c(diǎn)限界。測(cè)量軟件并自動(dòng)判斷是否超限，自動(dòng)生成圖形和限界報(bào)表。
更新時(shí)間:2024-10-23
hyrs-5電子鋼軌平直度測(cè)量?jī)x采用非接觸式的激光傳感器測(cè)量，可測(cè)量垂直和水平兩個(gè)方向的平順度情況，適用于測(cè)量鋼軌焊補(bǔ)、接頭以及絕緣軌接頭的平順度，還可以對(duì)鋼軌的垂直面的磨損程度進(jìn)行評(píng)估。在測(cè)量過(guò)程中還可以采用重疊法，對(duì)鋼軌磨損的測(cè)量長(zhǎng)度能夠超過(guò)設(shè)備本身的長(zhǎng)度，不僅適用于對(duì)短距離波形范圍（0.03-0.3米）的鋼軌磨損情況評(píng)估，也適用于對(duì)長(zhǎng)距離波形范圍（0.3-1米、1-3米、10米）的鋼軌磨損情
更新時(shí)間:2024-10-23
hypx-a準(zhǔn)直儀或其他無(wú)縫線路位移觀測(cè)設(shè)備是一種門(mén)用于檢測(cè)無(wú)縫線路鋼軌位移變化量的測(cè)量裝置。采用光電對(duì)準(zhǔn)技術(shù)等，能夠快速、精確、方便地測(cè)量鋼軌的位移變化。使用本產(chǎn)品進(jìn)行無(wú)縫線路鋼軌位移量檢測(cè)時(shí)，僅在測(cè)量定位時(shí)需要簡(jiǎn)單的操作步驟，降低了對(duì)操作者的技能要求，操作簡(jiǎn)便，省時(shí)高效。
更新時(shí)間:2024-10-23
hyjc-s手推式接觸網(wǎng)幾何參數(shù)智能檢查儀 是用于測(cè)量鐵路接觸網(wǎng)各項(xiàng)幾何參數(shù)的多功能、多用途、一體化、全自動(dòng)化的產(chǎn)品。采用區(qū)別于激光雷達(dá)的光電技術(shù)，實(shí)現(xiàn)在軌道上單人手推儀器、自動(dòng)測(cè)量計(jì)算、實(shí)時(shí)顯示及對(duì)比、自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)、波形圖及超限情況（報(bào)警）的高效測(cè)量模式，同時(shí)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)圖表化輸出和歷史數(shù)據(jù)對(duì)比的高效數(shù)據(jù)分析，有效的降低了人員勞動(dòng)強(qiáng)度、提升了測(cè)量穩(wěn)定性及工作效率，科學(xué)有效地指導(dǎo)接觸網(wǎng)的維護(hù)。
更新時(shí)間:2024-10-23
hyxj-3全自動(dòng)站臺(tái)限界測(cè)量?jī)x是一種采用區(qū)別于激光點(diǎn)及激光雷達(dá)的電子傳感器系統(tǒng)、激光成像系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)等進(jìn)行全斷面限界檢測(cè)的儀器。采用手推式非接觸動(dòng)態(tài)檢測(cè)小車的測(cè)量方式，由人工推著在軌道上行走，儀器自動(dòng)測(cè)量所有限界數(shù)據(jù)（水平限界、高度限界、站臺(tái)輪廓、風(fēng)雨棚高度、水平超高等），曲線段自動(dòng)計(jì)算和測(cè)量。軟件系統(tǒng)實(shí)時(shí)完成限界檢測(cè)、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析處理和顯示及超限判斷，生成檢測(cè)報(bào)表。
更新時(shí)間:2024-10-23
gr-3028型紫外煙氣綜合分析儀（以下簡(jiǎn)稱分析儀）以紫外差分吸收光譜技術(shù)為核心的新型產(chǎn)品，主要用于排氣管道中有害氣體成分的測(cè)量，廣泛應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測(cè)以及熱工參數(shù)測(cè)量等部門(mén)。該分析儀性能指標(biāo)均符合國(guó)家環(huán)保局頒布的煙氣測(cè)試儀的有關(guān)規(guī)定。采用紫外差分吸收光譜技術(shù)和化學(xué)計(jì)量學(xué)算法測(cè)量so2/no/no2/o2/co/co2等氣體的濃度，不受煙氣中水蒸氣影響，具有較高
更新時(shí)間:2024-10-23
最新產(chǎn)品
- 旋轉(zhuǎn)式料位開(kāi)關(guān) 2024/10/23 10:20:01
- 小鼠腎小球足細(xì)胞mpc-5 2024/10/23 10:18:30
- 韓國(guó)三芝保護(hù)膜產(chǎn)品型號(hào)如下 2024/10/23 10:17:37
- ABB011797-006ABBSPROCKET,HD,2-CHAIN,B3/4現(xiàn)貨價(jià)優(yōu) 2024/10/23 10:15:51
- 牛隱孢子蟲(chóng)病抗原（Cryptosporidiosis-Ab）ELISA檢測(cè)試劑盒 2024/10/23 10:15:34
- ABB張力控制器系統(tǒng)PFEA113-65訂貨號(hào)3BSE028144R65同城速達(dá) 2024/10/23 10:15:16
- 小鼠腎小球系膜細(xì)胞SV40-MES-13 2024/10/23 10:15:07
- ABB涂料槍針4N4771同城速達(dá) 2024/10/23 10:14:40
- ABB011795-025ABBSPROCKET,HD,1.50,B.750現(xiàn)貨價(jià)優(yōu) 2024/10/23 10:14:10
- ABB型號(hào)IRB6640本體電纜線1-6軸3HAC024385-001物美價(jià)廉 2024/10/23 10:13:43
- 阻旋式料位控制器 2024/10/23 10:13:12
- ABB張力傳感器PFTL101A現(xiàn)貨價(jià)優(yōu) 2024/10/23 10:13:11
- ABB011797-004ABBSPROCKET,HD,3-CHAIN,B1現(xiàn)貨發(fā) 2024/10/23 10:12:39
- ABB控制卡23ZG21現(xiàn)貨價(jià)優(yōu) 2024/10/23 10:12:15
- ABB張力系統(tǒng)PFTL101AE選購(gòu)?fù)扑] 2024/10/23 10:11:41
- 小鼠甘油三酯（TG）ELISA檢測(cè)試劑盒 2024/10/23 10:11:38
- 優(yōu)勢(shì)品牌#原廠進(jìn)口#HYDAC備件SB330-10A1/112A9-330A* 2024/10/23 10:11:26
- ABB011795-029ABBSPROCKET,HD,1.38B.750同城速達(dá) 2024/10/23 10:11:01
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