欧美大片一区二区三区,久久一本色道综合,国产不卡在线视频,国产午夜精品免费一二区

原子力顯微鏡(AFM)產(chǎn)品及廠(chǎng)家

SPM-9700HT型原子力顯微鏡
spm-9700ht作為一種全新的換代產(chǎn)品,通過(guò)新開(kāi)發(fā)的可快速響應(yīng)的ht掃描器以及軟件與控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)的優(yōu)化,成功實(shí)現(xiàn)以傳統(tǒng)設(shè)備5倍以上的速度獲取圖像數(shù)據(jù)。spm-9700ht在基本觀察功能的基礎(chǔ)上融入了更強(qiáng)的測(cè)量功能,具備了卓越的信號(hào)處理能力,加上先進(jìn)的vbdf功能,數(shù)字處理能力比同類(lèi)產(chǎn)品提高40%,可得到更高分辨率、更高質(zhì)量的觀察圖像。
更新時(shí)間:2024-10-21
NT-MDT 原子力顯微鏡Prima
更新時(shí)間:2024-10-21
布魯克 InSight AFP原子力顯微鏡
更新時(shí)間:2024-10-21
Bruker Dimension FastScan多功能 原子力顯微鏡
更新時(shí)間:2024-10-21
布魯克 Dimension FastScan Bio 原子力顯微鏡
dimension fastscan bio 原子力顯微鏡 (afm) 可實(shí)現(xiàn)生物動(dòng)力學(xué)的高分辨率研究,實(shí)時(shí)樣品觀測(cè)的時(shí)間分辨率高達(dá)每 3 幀。更重要的是,它同時(shí)使afm比以往更容易使用。dimension fastscan bio afm 以先進(jìn)的大
更新時(shí)間:2024-10-21
安東帕 Tosca 200原子力顯微鏡
更新時(shí)間:2024-10-21
原子力顯微鏡 懸臂反射原子力顯微鏡 探針原子力顯微鏡出租
原子力顯微鏡(atomic force microscopy)是種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ),通過(guò)掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。般原子力顯微鏡利用探針對(duì)樣品掃描,探針固定在對(duì)探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會(huì)引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測(cè)器接受反射光,后接受信號(hào)經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
更新時(shí)間:2024-10-18
上海彥祥電子1000型原子力顯微鏡
1000型原子力顯微鏡應(yīng)用:其應(yīng)用范圍十分廣泛,利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測(cè)定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢(shì)梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細(xì)胞的表面結(jié)構(gòu)等。可測(cè)樣品有:薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復(fù)合材料、納米復(fù)合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導(dǎo)體材料、納米纖維、蛋白質(zhì)、納米粉體等。應(yīng)用行業(yè):高校(理工類(lèi))實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)、公安刑偵和工業(yè)檢測(cè)部門(mén)。
更新時(shí)間:2024-10-10
verifire激光干涉儀
zygo致力于保護(hù)您在verifire干涉儀的長(zhǎng)壽命期間的投資。 在全球安裝了數(shù)千套系統(tǒng),沒(méi)有其他計(jì)量公司接近zygo的產(chǎn)品質(zhì)量和客戶(hù)滿(mǎn)意度記錄。質(zhì)量多功能性和生產(chǎn)力大化您的投資zygo公司:光學(xué)計(jì)量的導(dǎo)者•我們保證verifire系統(tǒng)和組件作為完整解決方案的一部分,符合我們的iso 9001注冊(cè)設(shè)施
更新時(shí)間:2024-09-23
Dimension系列大樣品臺(tái)原子力顯微鏡
bruker dimension® icon™ 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米域的研究者帶來(lái)了全新的afm應(yīng)用體驗(yàn),其測(cè)試功能強(qiáng)大,操作簡(jiǎn)便易行。仍然以上應(yīng)用廣泛的af
更新時(shí)間:2024-09-23
Zygo NewView  9000 3D 光學(xué)輪廓儀
zygo newview 9000 3d 光學(xué)輪廓儀提供了強(qiáng)大的非接觸式光學(xué)表面分析的多功能性。它可以容易和快速地測(cè)量各種表面類(lèi)型,包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表面。所有的測(cè)量都是無(wú)損、快速、無(wú)需樣品制備的。系統(tǒng)的核心是 zygo 相干掃描干涉技術(shù)(csi),提供了所有放大倍數(shù)下亞納米的精度,并且能夠快速測(cè)試各種樣品表面。
更新時(shí)間:2024-09-23
Zygo ZeGage ProHR桌面式光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x
zygo zegage pro光學(xué)輪廓儀是用于3d形貌定量測(cè)試,和精密機(jī)械表面粗糙度檢測(cè)的理想非接觸式檢測(cè)工具。它工業(yè)化的設(shè)計(jì)提供快速,精確的測(cè)量方案,并且外形緊湊、性?xún)r(jià)比高,能夠放在生產(chǎn)車(chē)間工作,而不需要振動(dòng)隔離和特殊的隔離裝置。同時(shí)交互式的控制軟件mx 提供了簡(jiǎn)單而精細(xì)的圖形圖像來(lái)幫助你的加工處理。
更新時(shí)間:2024-09-23
Filmetrics F20 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù),還是想要知道材料的反射率和透過(guò)率,f20都能滿(mǎn)足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝,通過(guò)usb連接電腦,設(shè)備就可以在數(shù)內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果。基于某模塊化設(shè)計(jì)的特點(diǎn),f20適用于各種應(yīng)用。
更新時(shí)間:2024-09-23
F50薄膜厚度均勻性測(cè)量?jī)x
依靠f50先進(jìn)的光譜測(cè)量系統(tǒng),可以很簡(jiǎn)單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái),可以非常快速的定位所需測(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度,測(cè)試非常快速,大約每能測(cè)試兩點(diǎn)。用戶(hù)可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。f50系統(tǒng)配置高精度使用壽命長(zhǎng)的移動(dòng)平臺(tái),確保能夠做成千上萬(wàn)次測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-09-23
KLA探針式表面輪廓儀P-7
kla是全球半導(dǎo)體在線(xiàn)檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)的供應(yīng)商,在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、mems、太陽(yáng)能、光電子以及其他域中有著高的市占率。p-7是kla公司的第八代探針式臺(tái)階儀系統(tǒng),歷經(jīng)技術(shù)積累和不斷迭代更新,集合眾多技術(shù)優(yōu)勢(shì)。p-7建立在市場(chǎng)先的p-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。它保持了p-17技術(shù)的卓越測(cè)量性能,并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了高的性?xún)r(jià)比。p-7可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)
更新時(shí)間:2024-09-23
KLA探針式表面輪廓儀
kla是全球半導(dǎo)體在線(xiàn)檢測(cè)設(shè)備市場(chǎng)大的供應(yīng)商,在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、mems、 太陽(yáng)能、光電子以及其他域中有著高的市占率。alpha-step" 探針式輪廓儀支持合階高度和粗度的2d及3d(d-600)輪廓掃描,以及翹曲度和應(yīng)力的2d測(cè)量。創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量,大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。
更新時(shí)間:2024-09-23
Film sense薄膜厚度橢偏儀
film sense 多波長(zhǎng)橢偏儀通過(guò)簡(jiǎn)單的 1 測(cè)量,可以以高的精度和精度測(cè)定大多數(shù)透明薄膜的薄膜厚度和折射率并對(duì)許多樣品進(jìn)行光學(xué)常數(shù) n&k 等薄膜性質(zhì)的測(cè)量。多波長(zhǎng)橢偏儀提供了強(qiáng)大的薄膜測(cè)量功能售價(jià)只是單一波長(zhǎng)橢偏儀和光譜橢偏儀的中等水平。film sense 偏儀非常適合在研究實(shí)驗(yàn)室教室,現(xiàn)場(chǎng)處理室,工業(yè)質(zhì)量控制等等。
更新時(shí)間:2024-09-23
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT2-EFEM
lumina at2-efem可以在2分鐘內(nèi)完成300毫米晶圓的掃描,對(duì)于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時(shí)間:2024-09-23
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT2
lumina at2可以在3分鐘內(nèi)完成300毫米晶圓的掃描,對(duì)于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時(shí)間:2024-09-23
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT1
lumina at1可以在4分鐘內(nèi)完成150毫米晶圓的掃描,對(duì)于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底,如玻璃,化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時(shí)間:2024-09-23
上海彥祥電子6800原子力顯微鏡
原子力顯微鏡應(yīng)用:其應(yīng)用范圍十分廣泛,利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測(cè)定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢(shì)梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細(xì)胞的表面結(jié)構(gòu)等。可測(cè)樣品有:薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復(fù)合材料、納米復(fù)合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導(dǎo)體材料、納米纖維、蛋白質(zhì)、納米粉體等。應(yīng)用行業(yè):高校(理工類(lèi))實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)、工業(yè)檢測(cè)部門(mén)。
更新時(shí)間:2024-09-19
5500M  日立全自動(dòng)型原子力顯微鏡
日立5500m全自動(dòng)型原子力顯微鏡afm5500m是操作性和測(cè)量精度大幅提高,配備4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)的全自動(dòng)型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換,激光對(duì)中,測(cè)試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動(dòng)操作平臺(tái)。新開(kāi)發(fā)的高精
更新時(shí)間:2024-09-04
5300E  日立環(huán)境多功能原子力顯微鏡
 環(huán)境多功能原子力顯微鏡afm5300e是一款環(huán)境型原子力顯微鏡,它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。afm5300e還具有高低溫控制功能,可以檢測(cè)溫度對(duì)樣品
更新時(shí)間:2024-09-04
AFM100 Plus/AFM100  多功能掃描探針顯微鏡系統(tǒng)
多功能掃描探針顯微鏡afm100 plus/afm100系統(tǒng)afm100 plus/afm100系統(tǒng)是以在研發(fā)、生產(chǎn)、教育等各種場(chǎng)合普及afm應(yīng)用為目的,并追求操作性、性及率觀察的通用型高分辨掃描探針
更新時(shí)間:2024-09-04
日立環(huán)境多功能原子力顯微鏡
日立環(huán)境多功能原子力顯微鏡通過(guò)采用『綜合型holder flange開(kāi)合功能』,樣品和掃描器更換更為方便的同時(shí),免去了以往環(huán)境型spm的樣品更換后的所需的光軸調(diào)整。 也省去測(cè)試模式切換時(shí)的支架更換環(huán)節(jié)。3. 卓越的高性能采用了『swing cancel功能』,減輕了樣品的浮動(dòng),降低了漂移。提高了納米分析性能,提升了可信度。 漂移量:0.015nm/
更新時(shí)間:2024-09-04
日立全自動(dòng)型原子力顯微鏡
afm5500m是操作性和測(cè)量精度大幅提高,配備4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)的全自動(dòng)型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換,激光對(duì)中,測(cè)試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動(dòng)操作平臺(tái)。新開(kāi)發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應(yīng)器使測(cè)量精度大幅提高。并且,通過(guò)sem-afm共享坐標(biāo)樣品臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)同一視野的相互觀察分析。
更新時(shí)間:2024-09-04
多功能原子力顯微鏡
工作模式:接觸模式、非接觸模式、敲擊模式標(biāo)準(zhǔn)模塊:相位、橫向力(摩擦)、力曲線(xiàn)、力調(diào)制、靜電力和磁力模塊選配模塊:導(dǎo)電力模式,表面電勢(shì)模塊
更新時(shí)間:2024-09-03
散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡
s-snom技術(shù)使用金屬鍍層的原子力(afm)探針針尖代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來(lái)增強(qiáng)樣品的納米尺度區(qū)域的散射,散射信號(hào)可以在遠(yuǎn)場(chǎng)被檢測(cè)到。而這些散射信號(hào)攜帶了樣品在金屬探針針尖下納米區(qū)域的復(fù)雜光學(xué)性質(zhì)。具體而言,這些散射光的信息包括光的振幅和相位,通過(guò)適當(dāng)?shù)哪P停@些測(cè)量可以估算出針尖下樣品納米尺度區(qū)域材料的光學(xué)常數(shù)(n,k)。在某些情況下,光學(xué)相位與波長(zhǎng)還提供了個(gè)與同種材料常規(guī)吸收光譜近似的光譜信息
更新時(shí)間:2024-09-03
原子力顯微鏡
bruker原子力顯微鏡-dimension fastscan
更新時(shí)間:2024-08-26
原子力顯微鏡
bruker原子力顯微鏡dimension edge
更新時(shí)間:2024-08-26
原子力顯微鏡
bruker原子力顯微鏡dimension
更新時(shí)間:2024-08-26
原子力顯微鏡
bruker原子力顯微鏡-dimension icon
更新時(shí)間:2024-08-26
Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Edge
dimension edge原子力顯微鏡采用了布魯克的一些創(chuàng)新技術(shù),達(dá)到了同類(lèi)產(chǎn)品的zui高水平,為納米尺度的科學(xué)研究提供了高效率、高性?xún)r(jià)比的強(qiáng)大工具。
更新時(shí)間:2024-08-26
Bruker原子力顯微鏡-- Dimension FastScan
dimension fastscantm 原子力顯微鏡(atomic force microscope,afm),在不損失dimension® icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下,zui大限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新,從根本上解決了afm成像速度慢的難題,大大縮短了各技術(shù)水平的afm用戶(hù)獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)的時(shí)間,是世界上掃描速度zui快的原子力顯微鏡。
更新時(shí)間:2024-08-26
Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Icon
dimension icon 系列作為布魯克公司(bruker axs)原子力顯微鏡的旗艦產(chǎn)品,凝聚了多項(xiàng)行業(yè)ling先的zhuan li技術(shù),是二十多年技術(shù)創(chuàng)新、客戶(hù)反饋和行業(yè)應(yīng)用的結(jié)晶。
更新時(shí)間:2024-08-26
輕敲模式常用探針TESPA-V2
一包10根高質(zhì)量硅蝕刻探針,用于tappingmode™和其他非接觸模式。bruker afm probes推出了其流行的tesp / tespa afm探針的改進(jìn)版本。 布魯克的新系列tesp高品質(zhì)優(yōu)質(zhì)蝕刻硅探針為tappingmode™和空氣中的非接觸模式設(shè)定了行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2024-07-17
布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針輕敲模式OLTESPA-R3
更易定位,更適合如按樣品。此型號(hào)為布魯克貼標(biāo)產(chǎn)品,同型號(hào)奧林巴斯omcl-ac240ts-r3 探針。懸臂共振頻率:70(50~90) khz(空氣中),彈性系數(shù):2 n/m。針尖曲率半徑:7nm(典型值)al涂層。
更新時(shí)間:2024-07-17
布魯克Bruker(原veeco)性能AFm—Icon
dimension icon是dimension系列產(chǎn)品中的新款設(shè)備,它基于上應(yīng)用廣泛的afm平臺(tái),集合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新、行業(yè)內(nèi)先的應(yīng)用定制及客戶(hù)反饋等于一身。這個(gè)系統(tǒng)經(jīng)過(guò)從上到下的設(shè)計(jì),在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現(xiàn)。
更新時(shí)間:2024-07-17
布魯克Bruker(原veeco)最高端AFm—Fastscan
dimension fastscantm原子力顯微鏡(atomic force microscope,afm),在不損失dimension  icon 超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新,從根本上解決了afm成像速度慢的難題,大大縮短了各技術(shù)水平的afm用戶(hù)獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間。
更新時(shí)間:2024-07-17
布魯克Bruker(原veeco)高分辨率SPM-MultiMode8
multimode8-高分辨率spm,納米材料、高分子材料得力的科研助手1. 上高的分辨率2. 出眾的掃描能力3. 優(yōu)異的可操作性4. 非凡的靈活性與功能性5. 無(wú)限的應(yīng)用擴(kuò)展性
更新時(shí)間:2024-07-17
布魯克Bruker(原veeco)生物AFm—Resolve
布魯克公司的bioscope resolve™生物原子力顯微鏡與倒置光學(xué)顯微鏡聯(lián)用,實(shí)現(xiàn)了高分辨的原子力顯微鏡成像和完整的細(xì)胞力學(xué)性質(zhì)測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-07-17
布魯克Bruker(原veeco)大樣品臺(tái)高性?xún)r(jià)比AFM—-Edge
dimension® edge™ 原子力顯微鏡采用新技術(shù), 其儀器性能、測(cè)試功能和操作性在同類(lèi)產(chǎn)品中處于高水平。基于頂?shù)膁imension icon®平臺(tái), dimension edge系統(tǒng)的整體設(shè)計(jì)使其 具有低漂移、低噪音的特點(diǎn).
更新時(shí)間:2024-07-17
HFM-HLI型可溯源原子力顯微鏡
hfm-hli型可溯源原子力顯微鏡可將原子力探針與白光干涉結(jié)合,實(shí)現(xiàn)原子力探針掃描超精密表面微納形貌和結(jié)構(gòu)測(cè)量。1.產(chǎn)品型號(hào):hfm-hli2.產(chǎn)地:中國(guó)武漢3.產(chǎn)品介紹:hfm-hli型可溯源原子力顯微鏡可將原子力探針與白光干涉結(jié)合,實(shí)現(xiàn)原子力探針掃描超精密表面微納形貌和結(jié)構(gòu)測(cè)量。4.技術(shù)指標(biāo):
更新時(shí)間:2024-07-09
拉曼原子力顯微鏡系統(tǒng)
alpha300 ra –在一個(gè)系統(tǒng)里面集成化學(xué)成分分析和納米級(jí)別的結(jié)構(gòu)成像alpha300 ra 是市場(chǎng)上首個(gè)高度集成的拉曼原子力顯微鏡系統(tǒng),可以在標(biāo)準(zhǔn)的alpha 300r共聚焦拉曼系統(tǒng)上通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)模塊升級(jí)即可完成拉曼原子力系統(tǒng)聯(lián)用,獲得原位的afm和raman圖像的疊加。alpha300 ra 獨(dú)特的設(shè)計(jì)理念使聯(lián)用系統(tǒng)既保留300r強(qiáng)大的化學(xué)組分分析能力,同時(shí)加入微納級(jí)別的表面形貌等特性的分析能力,使研究者能對(duì)樣品進(jìn)行深度完善的分析和理解。
更新時(shí)間:2024-05-27
布魯克 Dimension Icon 原子力顯微鏡
dimension icon 原子力顯微鏡(afm)的性能、功能及附件等方面具有全新表現(xiàn),在聚合物、半導(dǎo)體、能源、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及材料領(lǐng)域的納米研究中將會(huì)得到廣泛應(yīng)用。dimension icon是dimension系列產(chǎn)品中的zui新款設(shè)備,它基于世界上應(yīng)用最廣泛的afm平臺(tái),集合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新、行業(yè)內(nèi)ling先的應(yīng)用定制及客戶(hù)反饋等于一身。這個(gè)系統(tǒng)經(jīng)過(guò)從上到下的設(shè)計(jì),在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現(xiàn)。
更新時(shí)間:2024-03-15
布魯克 BioScope Resolve  原子力顯微鏡
布魯克公司的bioscope resolve?生物原子力顯微鏡與倒置光學(xué)顯微鏡聯(lián)用,實(shí)現(xiàn)了zui高分辨的原子力顯微鏡成像和zui完整的細(xì)胞力學(xué)性質(zhì)測(cè)量。 bioscope resolve采用了布魯克公司獨(dú)有的peakforce tapping技術(shù),使研究者能夠獲得zui高分辨率的生物成像和在每一像素點(diǎn)上皮牛級(jí)(pn)的力學(xué)測(cè)量和力譜分析。該系統(tǒng)對(duì)光學(xué)圖像和原子力顯微鏡數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)整合,使以往不可能獲得的數(shù)據(jù)成為了可能。包括物理結(jié)構(gòu),生化相互作用和力學(xué)特性在內(nèi)的多重信息,為生命科學(xué)的深入研究提供了獨(dú)特的技術(shù)平臺(tái)。布魯克公司的peakforce tapping技術(shù)可以為生物學(xué)家?guī)?lái)以下獨(dú)特的功能集成:針對(duì)zui軟的生物樣品實(shí)現(xiàn)zui高的分辨率成像,zui定量的力學(xué)性質(zhì)成像和zui簡(jiǎn)便的操作。
更新時(shí)間:2024-03-15
布魯克 Dimension FastScan 原子力顯微鏡
imension fastscan? 原子力顯微鏡 (afm)在不損失dimension® icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下,zui大限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新,從根本上解決了afm成像速度慢的難題,大大縮短了各技術(shù)水平的afm用戶(hù)獲得數(shù)據(jù)的時(shí)間。為提高afm使用效率和檢測(cè)性能,bruker開(kāi)發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng),不降低分辨率,不增加操作復(fù)雜性,不影響儀器使用成本的前提下,幫助用戶(hù)實(shí)現(xiàn)了利用dimension快速掃描系統(tǒng),即快速得到高分辨高質(zhì)量afm圖像的愿望。當(dāng)您對(duì)樣品進(jìn)行掃描時(shí),無(wú)論設(shè)置實(shí)驗(yàn)參數(shù)為掃描速度 > 125hz,還是在大氣下或者溶液中1秒獲得一張afm圖像,都能得到優(yōu)異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術(shù)創(chuàng)新重新定義了afm儀器的操作和功能。
更新時(shí)間:2024-03-15
Diamond III  量子鉆石原子力顯微鏡
量子鉆石原子力顯微鏡(qdafm)qdafm 是一臺(tái)基于 nv 色心和 afm 掃描成像技術(shù)的量子精密測(cè)量?jī)x器。通過(guò)對(duì)鉆石中氮—空位(nv)色心發(fā)光缺陷的自旋進(jìn)行量子操控與讀出,可實(shí)現(xiàn)磁學(xué)性質(zhì)的定量無(wú)
更新時(shí)間:2023-10-28

最新產(chǎn)品

熱門(mén)儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見(jiàn)分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑