x 熒光光譜測(cè)厚儀采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)良好的射線屏蔽作用任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。熒光x射線儀鍍層測(cè)厚儀相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
涂鍍鎳層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):外觀尺寸: 576(w)×495(d)×545(h) mm;樣品室尺寸:500(w)×350(d)×140(h) mm ;測(cè)試時(shí),可開蓋,對(duì)樣品長度無限制;檢測(cè)開槽口時(shí),厚度10mm以上,寬度和深度沒有限制。