mpa ii 是布魯克光譜部門集近 40 年設(shè)計(jì)和生產(chǎn) ftir 和 ft-nir 光譜儀經(jīng)驗(yàn)的結(jié)晶,該儀器具有強(qiáng)大的擴(kuò)展靈活性和性能,為 ft-nir 分析儀器樹立了新的標(biāo)準(zhǔn)。其高性能的附件和靈活的操作性,成為實(shí)驗(yàn)室和過程分析開發(fā)各種方法不可缺少的強(qiáng)有力工具,能夠大程度的滿足不同用戶科研和生產(chǎn) qa/qc 的需求。采用模塊化設(shè)計(jì),可以針對(duì)每個(gè)分析任務(wù)進(jìn)行單獨(dú)配置
更新時(shí)間:2024-10-09